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掠入射XRD(GIXRD)

能够精确地对金属和非金属进行物相定性、定量分析,薄膜材料的物相、厚度、密度、粗糙度分析,结晶度分析、晶胞参数计算和固溶体分析,微观应力及晶粒大小分析,微区分析。 配备高温原位附件和自动进样器,实现高温反应中的原位分析测试。

15652933592( 姚工 )

掠入射XRD(GIXRD)

仪器名称:超高能量分辨X射线衍射分析仪

仪器生产厂家:德国Bruker

仪器型号:D8 Advance

仪器参数:测角仪2θ转动范围:-110°~168°,最小步长:0.0001°;

原位附件:两种加热方式:直接加热法:室温~1600℃;

环境加热:室温~1100℃,1300℃;

谱库:COD数据库(超37万种谱图)。

测试项目:物相分析(谱图/定性/半定量/定量)、结构精修、晶格参数、结晶度、晶粒尺寸、高温原位


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