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原子力显微镜AFM

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透射电子显微镜TEM

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高温激光共聚焦显微镜

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金相显微镜

能够在满足材料实验室常见的光学成像要求下进行材料和金相分析。应用于无机材料、金属/合金、高分子材料、纤维材料、液晶材料、新型材料-石墨烯、地质勘查等。

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三坐标测量仪

高效率、新型化、高精密的机械零部件、陶瓷零部件等尺寸、公差参数超精密检测仪器，被广泛应用在模具、检具、五金、电子、机械、汽车零部件、航空航天、高端装备、3D打印等行业内工件的检验与超精密测量。

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超景深显微镜

本设备为高位定型低重心专业分析显微镜，可通过操控手柄进行快速便捷的使用显微镜。配有倾斜支架、电动Z轴以及高精度电动XY载物台，结合70倍~7000倍的光学总放大倍率以及多种光学观察方式，可实现大面积区域的高精度、高清晰3D形貌成像。

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扫描电子显微镜SEM

场发射扫描电子显微镜（FESEM）是电子显微镜的一种。该仪器具有超高分辨率，能用于各种固态样品表面形貌的二次电子像、反射电子像观察及图像处理。配备高性能X射线能谱仪（牛津，Ultim® Max 65）能同时进行样品表层的微区点线面元素的定性、半定量及定量分析，从而使该设备具有形貌、化学组分综合分析能力。

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微区XRD

能够精确地对金属和非金属进行物相定性、定量分析，薄膜材料的物相、厚度、密度、粗糙度分析，结晶度分析、晶胞参数计算和固溶体分析，微观应力及晶粒大小分析，微区分析。 配备高温原位附件和自动进样器，实现高温反应中的原位分析测试。

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红外反射率、发射率、漫反射测试

应用于各种形态材料（溶液、薄膜、粉末等）反射率、透射率、吸收率、吸光度等性能的表征；同时也是研究物质的成分、结构和物质间相互作用的定性与定量有效手段。

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掠入射XRD（GIXRD）

能够精确地对金属和非金属进行物相定性、定量分析，薄膜材料的物相、厚度、密度、粗糙度分析，结晶度分析、晶胞参数计算和固溶体分析，微观应力及晶粒大小分析，微区分析。 配备高温原位附件和自动进样器，实现高温反应中的原位分析测试。

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高分辨质谱（HRMS）

DFS 扇形磁场 GC-HRMS 主要用于常规含氯二噁英分析，是多种法规列入的二噁英定量分析“黄金法则”仪器，DFS-气相色谱质谱联用仪器还可用于定性定量分析其他环境污染物，如溴代二噁英、溴氯混合取代二噁英、多氯联苯、多溴联苯醚、多溴联苯、氯代萘等，能提供优越的分析精确度和精密度，以及极高的灵敏度。

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紫外/可见/近红外漫反射测试

应用于各种形态材料（溶液、薄膜、粉末等）反射率、透射率、吸收率、吸光度等性能的表征；同时也是研究物质的成分、结构和物质间相互作用的定性与定量有效手段。

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